布鲁克 D8 ADVANCEX射线衍射仪

产品简介：

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

产品特点：

• 布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。

• 布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。

• LYNXEYE XE-T探测器，具有优于380 eV的能量分辨率。

• Theta/theta 立式测角仪                               

• 2Theta角度范围：-110~168°

• 角度精度：0.0001度                     

• Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管                  

• 探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器   

产品简介：

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

产品特点：

• 布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。

• 布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。

• LYNXEYE XE-T探测器，具有优于380 eV的能量分辨率。

• Theta/theta 立式测角仪                               

• 2Theta角度范围：-110~168°

• 角度精度：0.0001度                     

• Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管                  

• 探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器   

产品简介：

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

产品特点：

• 布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。

• 布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。

• LYNXEYE XE-T探测器，具有优于380 eV的能量分辨率。

• Theta/theta 立式测角仪                               

• 2Theta角度范围：-110~168°

• 角度精度：0.0001度                     

• Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管                  

• 探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器